上海菁華 722N化驗室可見分光光度計詳細介紹：

儀器所附的(de)比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿是(shi)經過配對(dui)(dui)測試(shi)的(de)(其配對(dui)(dui)誤(wu)差不大于0.5%T)，未經配對(dui)(dui)處理的(de)比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿將影響樣(yang)品(pin)的(de)測試(shi)精(jing)度。石(shi)英比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿一套兩(liang)只(zhi)，供(gong)(gong)紫外光譜(pu)區和可見光譜(pu)區使用(yong)，玻(bo)璃比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿一套四只(zhi)，供(gong)(gong)可見光譜(pu)區使用(yong)。比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿是(shi)有方(fang)向性的(de)，置(zhi)入(ru)樣(yang)品(pin)架時(shi)，兩(liang)只(zhi)石(shi)英比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿上標(biao)記Q或(huo)箭頭、四只(zhi)玻(bo)璃比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿上標(biao)記G方(fang)向要一致。石(shi)英比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿和玻(bo)璃比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿不能(neng)混用(yong)，更不能(neng)和其它不經配對(dui)(dui)的(de)比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿混用(yong)。用(yong)手(shou)拿比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿應握比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿的(de)磨(mo)砂表面(mian)，不應接觸(chu)比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿的(de)透光面(mian)，即透光面(mian)上不能(neng)有手(shou)印或(huo)溶液(ye)痕跡，待測溶液(ye)中(zhong)不能(neng)有氣(qi)泡、懸浮物(wu)，否則也(ye)將影響樣(yang)品(pin)的(de)測試(shi)精(jing)度。比(bi)色(se)(se)(se)(se)(se)皿在使用(yong)完畢后(hou)應立即清洗干凈(jing)。

玻璃比色皿(min)使(shi)用的波(bo)長范(fan)圍(320~1100nm)，石(shi)英比色皿(min)使(shi)用的波(bo)長范(fan)圍(200~1100nm)。

可供物理(li)學(xue)、化學(xue)、醫(yi)學(xue)、生物學(xue)、地質學(xue)等學(xue)科進(jin)行(xing)科學(xue)研究，是廣泛應用(yong)于化工(gong)、藥品(pin)、生化、冶金、輕(qing)工(gong)、食品(pin)、材料、環保(bao)、醫(yi)學(xue)化驗(yan)等行(xing)業(ye)及分析行(xing)業(ye)中重要的(de)質量控(kong)制儀器之一，是常(chang)規(gui)實驗(yan)室的(de)常(chang)用(yong)儀器。

上海菁華 722N化驗室可見分光光度計功能特性：

1200L/mm光姍，C-T式(shi)單(dan)色器結構(gou)。

樣品(pin)室(shi)可選(xuan)擇100mm的樣品(pin)架，按不(bu)同(tong)行業(ye)的需求配置。

具有T、A、C、F等功能。

采用低雜散光(guang)、高分辨率的(de)光(guang)柵型單(dan)光(guang)束光(guang)路(lu)結(jie)構(gou)，具(ju)有良好的(de)穩定(ding)性，重(zhong)現性，光(guang)度線性和準(zhun)確的(de)測(ce)量(liang)讀數。更小(xiao)的(de)光(guang)譜帶寬可滿足常規分析(xi)測(ce)試項目的(de)要求。

采用優化設(she)計和微處理(li)技(ji)術(shu)，使儀器具有自動調0%T和100T等控(kong)制功能，以(yi)及T、A、C、F等測試方式(shi)。

數(shu)字顯示器可明亮清晰地顯示透(tou)射(she)比、吸光度和(he)濃度等參數(shu)，提高了儀器的讀數(shu)準確性。

配有(you)標準RS-232通訊接口的型(xing)號，可以連接計算(suan)機運行用(yong)戶(hu)應用(yong)軟件，具有(you)光度測試（T、A）、定量測試（C、F）及時間掃描等應用(yong)功(gong)能，可進行數據采(cai)集、保(bao)存(cun)和調用(yong)。

性能指(zhi)標：

波長范圍：325~1000nm

波長(chang)準確(que)度：±2nm

波長重(zhong)復性：1nm

光(guang)譜帶寬：4nm

透射比準確(que)：≤0.5%T

透射比重復：0.2%T

透射比范圍：0~200%T

吸光度(du)范圍：-0.301~3A

濃度顯(xian)示范圍：0~9999

雜散光：≤0.1%T

穩定性：±0.001A/H

輸(shu)出(chu)接口(kou)：RS-232

打(da)印機：選(xuan)配

軟件(jian)：選配

調(diao)T零(0%T)

在(zai)T模式(shi)下，將遮光體置入樣品架，合上(shang)樣品室蓋，并拉動樣品架拉桿使其進入光路，然(ran)后按下“調(diao)0%T"鍵，顯示(shi)器(qi)上(shang)顯示(shi)“00.0"或(huo)“-00.0"，便(bian)完成調(diao)T零(ling)，完成調(diao)T零(ling)后，取出遮光體。

注意(yi)事(shi)項：

1.測試(shi)模(mo)式應在透射(she)比(bi)(T)模(mo)式；

2.如果(guo)未(wei)置入遮(zhe)光體合上樣品室蓋，并使其進入光路便無法完(wan)成調T零；

3.調T零(ling)時(shi)不要(yao)打(da)開樣品室蓋、推拉(la)樣品架；

4.調(diao)T零后(未取出遮光體)，如切換至吸光度(du)測試模(mo)式(shi)，顯示器上顯示為“.EL"。

5.如直接在吸(xi)光(guang)度(A)模式調T零，則在置入遮(zhe)光(guang)體后不管顯示器上(shang)是否顯示“.EL"，均需按動“調0%T"鍵(jian)。